晶圆形貌测量系统,晶圆形貌测量系统价格|报价-深圳市中图仪器股份有限公司

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晶圆几何量测机参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000晶圆几何量测机通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产...
型号： WD4000 品牌：其他品牌所在地：深圳市 对比

无图晶圆几何量测系统晶圆几何量测设备晶圆几何形貌测量机晶圆检测设备半导体晶圆量测机

2024/4/26 11:26:1852
无图晶圆三维形貌测量仪参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
中图仪器WD4000无图晶圆三维形貌测量仪可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。它通过非接触测量，将晶圆...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

无图晶圆几何量测系统晶圆三维形貌测量仪晶圆形貌测量设备晶圆检测设备无图晶圆形貌测量仪

2024/4/8 10:55:18115
晶圆光学无损检测设备参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
中图仪器WD4000晶圆光学无损检测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，通过非接触测量，将晶圆的三...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

无图晶圆几何量测系统晶圆几何量测设备晶圆检测设备晶圆形貌测量设备半导体检测设备

2024/3/28 10:34:55139
晶圆翘曲度测试设备参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000晶圆翘曲度测试设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

晶圆测试设备晶圆翘曲度测试设备翘曲度检测设备晶圆翘曲度测量设备晶圆几何量测设备

2024/3/8 10:14:33223
半导体晶圆几何量测设备参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
中图仪器WD4000半导体晶圆几何量测设备可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。通过非接触测量，将晶圆的...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

无图晶圆几何量测系统晶圆几何量测设备半导体晶圆量测设备晶圆几何形貌量测设备晶圆形貌测量设备

2024/2/27 10:31:40218
晶圆形貌测量仪器参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
中图仪器WD4000晶圆形貌测量仪器通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

无图晶圆几何量测系统晶圆几何形貌量测系统晶圆形貌测量设备半导体晶圆检测晶圆形貌检测

2024/2/21 11:32:51251
晶圆表面形貌测量系统参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000系列晶圆表面形貌测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

无图晶圆几何量测系统晶圆形貌测量设备半导体晶圆测量设备晶圆形貌测量设备晶圆表面形貌测量系统

2024/1/26 10:35:52432
晶圆三维形貌量测系统参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000晶圆三维形貌量测系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

晶圆三维形貌测量系统晶圆几何量测系统无图晶圆形貌测量系统半导体晶圆测量系统晶圆形貌测量设备

2024/1/18 9:59:44315
半导体晶圆厚度测量系统参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000半导体晶圆厚度测量系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

晶圆厚度测量系统半导体测量系统半导体晶圆测量系统无图晶圆几何量测系统半导体测量设备

2024/1/8 15:11:03301
晶圆形貌量测设备参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000晶圆形貌量测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

晶圆形貌测量设备晶圆形貌测量系统晶圆量测设备半导体晶圆量测设备半导体晶圆量测系统

2024/1/2 10:11:44282
半导体晶圆形貌测量系统参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000半导体晶圆形貌测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、B...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

半导体晶圆检测设备晶圆形貌测量系统晶圆形貌检测设备晶圆测量系统无图晶圆几何量测系统

2023/12/26 11:02:24292
无图晶圆几何形貌量测系统参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
中图仪器WD4000无图晶圆几何形貌量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

无图晶圆几何量测系统晶圆几何形貌量测系统无图晶圆形貌量测系统晶圆形貌量测系统半导体晶圆量测系统

2023/12/14 10:18:21291
晶圆表面形貌检测设备参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
中图仪器WD4000晶圆表面形貌检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分...
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晶圆检测设备晶圆形貌检测设备晶圆表面形貌检测设备半导体晶圆检测设备无图晶圆几何量测系统

2023/11/30 9:58:02331
无图晶圆几何测量系统参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000系列无图晶圆几何测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

晶圆几何测量系统无图晶圆测量系统晶圆表面形貌测量系统晶圆测量设备晶圆几何检测机

2023/11/10 11:42:08293
晶圆几何形貌测量设备参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000晶圆几何形貌测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

晶圆测量设备晶圆形貌测量设备晶圆检测机晶圆几何形貌测量系统无图晶圆测量设备

2023/11/6 10:19:22286
晶圆表面三维形貌测量设备参考价：面议

参考价：面议型号：WD4000
WD4000晶圆表面三维形貌测量设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的...
型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

晶圆形貌测量设备晶圆三维形貌测量设备无图晶圆几何量测系统晶圆表面测量设备半导体晶圆检测

2023/10/23 10:24:59366
WD4000无图晶圆检测机参考价：面议

参考价：面议型号：
WD4000无图晶圆检测机可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类...
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无图晶圆检测机晶圆检测设备半导体晶圆检测晶圆检测设备厂商晶圆检测机

2023/10/19 10:44:44344
WD4000无图晶圆几何量测系统参考价：面议

参考价：面议型号：
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺...
型号：品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比

晶圆检测机无图晶圆几何量测系统晶圆检测设备厂商晶圆表面检测机国产晶圆检测机

2023/10/17 11:24:17298

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