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半导体专业检测设备

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  • 半导体晶圆表面形貌量测设备 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    中图仪器WD4000系列半导体晶圆表面形貌量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体量测设备晶圆量测设备晶圆形貌量测设备无图晶圆几何量测系统表面形貌测量仪
    2025/4/21 10:07:37116

  • 晶圆表面形貌量测系统 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000晶圆表面形貌量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆量测系统晶圆测量设备无图晶圆几何量测系统半导体测量设备厚度测量系统
    2025/4/11 10:23:06198

  • 半导体晶圆wafer厚度测量设备 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000半导体晶圆wafer厚度测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆wafer测量设备晶圆厚度测量设备半导体测量设备晶圆测量设备无图晶圆几何量测设备
    2025/3/18 10:32:58241

  • 无图晶圆几何量测系统 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000无图晶圆几何量测系统非接触厚度、三维维纳形貌一体测量。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆量测系统无图晶圆几何量测系统晶圆测量设备晶圆形貌测量系统翘曲度测量仪
    2025/3/10 15:50:32541

  • 晶圆厚度翘曲度量测系统 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000晶圆厚度翘曲度量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆厚度测量仪晶圆翘曲度测量仪无图晶圆几何量测系统晶圆量测系统晶圆测量设备
    2025/3/10 15:02:52793

  • 晶圆几何参数测量设备 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000晶圆几何参数测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆测量设备晶圆几何测量设备无图晶圆几何量测系统晶圆形貌测量设备晶圆检测设备
    2025/3/10 14:33:55578

  • 晶圆表面形貌高效测量分析系统 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000晶圆表面形貌高效测量分析系统采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆形貌测量系统晶圆几何量测系统无图晶圆几何量测系统晶圆测量设备半导体晶圆检测
    2025/3/10 14:01:29652

  • 晶圆硅片厚度测量仪 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000晶圆硅片厚度测量仪采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，通过非接触测量，在有效防止晶圆产生划痕缺陷同时实现Wafer厚度、翘曲度、...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆厚度测量仪硅片厚度测量仪测厚仪无图晶圆几何量测系统晶圆测量设备
    2025/3/10 13:32:12762

  • 晶圆硅片表面3D量测系统 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000晶圆硅片表面3D量测系统采用光学白光干涉技术、精密 Z 向扫描模块和高精度 3D 重建算法，Z 向分辨率最高可到 0. 1nm。它通过非接触测量，将...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆量测系统无图晶圆几何量测系统硅片量测系统晶圆测量系统晶圆检测设备
    2025/3/10 12:39:42720

  • 晶圆制程几何尺寸量测设备 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000晶圆制程几何尺寸量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    无图晶圆几何量测系统晶圆量测设备晶圆几何量测设备半导体晶圆测量晶圆测量设备
    2025/3/10 12:04:43797

  • 半导体晶圆几何形貌量测设备 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    中图仪器WD4000半导体晶圆几何形貌量测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆几何量测设备晶圆形貌量测设备半导体晶圆量测无图晶圆几何量测系统晶圆检测设备
    2025/3/10 11:12:12882

  • 晶圆表面粗糙度测量仪器 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    中图仪器WD4000晶圆表面粗糙度测量仪器兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆粗糙度测量仪晶圆表面测量仪无图晶圆几何量测系统晶圆形貌测量仪器半导体晶圆测量仪
    2025/3/10 10:37:30948

  • 半导体晶圆量测设备 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000半导体晶圆量测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    无图晶圆几何量测系统半导体量测设备晶圆检测设备晶圆形貌测量设备晶圆测量设备
    2025/3/10 10:12:231020

  • 晶圆几何形貌测量及参数自动检测机 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000系列
    WD4000晶圆几何形貌测量及参数自动检测机采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、...
    型号： WD4000系列 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆几何测量机晶圆形貌测量机无图晶圆几何量测系统晶圆形貌测量系统晶圆形貌检测机
    2025/3/10 9:49:541022

  • 无图晶圆厚度翘曲度测量设备 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000无图晶圆厚度翘曲度测量设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    无图晶圆几何量测设备晶圆厚度测量设备晶圆翘曲度测量设备晶圆测量设备晶圆形貌测量设备
    2025/3/10 9:09:04924

  • 晶圆厚度翘曲度测量系统 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000晶圆厚度翘曲度测量系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆测量系统晶圆厚度测量系统晶圆翘曲度测量系统无图晶圆几何量测系统晶圆形貌测量系统
    2025/3/10 8:34:04703

  • 晶圆多维度特征检测设备 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000晶圆多维度特征检测设备系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆检测设备无图晶圆几何检测设备晶圆量测设备晶圆形貌测量设备晶圆几何形貌检测设备
    2025/3/10 8:04:28769

  • 半导体晶圆厚度高精度测量系统 参考价： ￥3000000

    参考价： 3000000 型号：WD4000
    WD4000系列半导体晶圆厚度高精度测量系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆测量系统晶圆厚度测量系统无图晶圆几何量测系统晶圆形貌测量系统晶圆几何量测系统
    2025/3/10 7:31:27826

  • 晶圆厚度表面粗糙度微纳三维形貌量测系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆厚度表面粗糙度微纳三维形貌量测系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、T...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆厚度量测系统晶圆粗糙度量测系统晶圆形貌量测系统无图晶圆几何量测系统半导体晶圆检测机
    2025/3/9 20:59:24797

  • 半导体晶圆粗糙度翘曲度检测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000半导体晶圆粗糙度翘曲度检测设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆检测设备半导体晶圆检测晶圆粗糙度检测设备晶圆翘曲度检测设备晶圆几何量测系统
    2025/3/9 20:15:36835

  • 国产半导体晶圆表面形貌测量系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000国产半导体晶圆表面形貌测量系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体晶圆测量系统晶圆形貌测量系统无图晶圆几何量测系统晶圆测量系统晶圆检测设备
    2025/3/9 19:29:44845

  • 晶圆厚度翘曲度粗糙度检测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆厚度翘曲度粗糙度检测设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆厚度检测设备晶圆翘曲度检测设备晶圆粗糙度检测设备晶圆检测设备无图晶圆几何量测系统
    2025/3/9 18:46:24927

  • 半导体晶圆Warp翘曲度量测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000半导体晶圆Warp翘曲度量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体晶圆量测设备晶圆翘曲度量测设备晶圆Warp量测设备无图晶圆几何量测系统晶圆形貌量测系统
    2025/3/9 18:25:09812

  • 晶圆几何形貌检测机 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆几何形貌检测机可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。自动测量...
    型号： WD4000 品牌：中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体晶圆检测晶圆检测机晶圆检测设备无图晶圆几何量测系统晶圆几何形貌测量机
    2025/3/9 17:53:55925
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