详细摘要： SENresearch 4.0 是 SENTECH 新的光谱椭偏仪。每一台 SENresearch 4.0 光谱椭偏仪都是根据客户具体配置的光谱范围、选项和现场...
产品型号：所在地：上海更新时间：2024-08-09 在线留言上海德竹芯源科技有限公司
上海德竹芯源科技有限公司
详细摘要： SENresearch 4.0 是 SENTECH 新的光谱椭偏仪。每一台 SENresearch 4.0 光谱椭偏仪都是根据客户具体配置的光谱范围、选项和现场...
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详细摘要： 光谱椭偏仪 SENpro 具有操作简单，测量速度快，能对不同入射角的椭偏测量数据进行组合分析等特点。光谱范围为 370 到 1050 nm。SENpro 的光谱...
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详细摘要： 激光椭偏仪 SE 400adv 测量透明薄膜的厚度和折射率指数，具有测量速度、亚埃级别的厚度精度和折射率测定的精度。多角度测量允许使用激光椭偏仪 SE 400a...
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详细摘要： RM1000 和 RM2000 代表 SENTECH 反射仪。台式装置包括高度稳定的光源、具有自动准直透镜和显微镜的反射光学部件、高度和倾斜可调的样品台、光谱光...
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详细摘要： 高分辨率X射线衍射仪，主要用途为测量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半导体材料...
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详细摘要： 2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而...
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详细摘要： Camtek为半导体行业提供广泛的检测和量测解决方案。Camtek的检测和量测设备能够在高产量下可靠地检测出有缺陷的IC，确保只有已知良好的芯片才能最终交付给客...
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详细摘要： PHI Quantera II 扫描XPS探针是 ULVAC-PHI 公司新研发的XPS分析仪器，是在 Quantum 2000 和 Quantera SXM ...
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详细摘要： 动态二次离子质谱仪（D-SIMS）是使用一次离子束（通常是Cs源）轰击样品表面，而产生二次离子，然后用质谱分析仪分析二次离子的质荷比（m/q），从而得知元素在样...
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详细摘要： PHI 4700 以 AES 分析技术为基础，搭配高灵敏度的半球型能量分析器、 10 kV LaB6 扫描式电子枪、5 kV 浮动柱状式Ar离子枪及高精密度的自...
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详细摘要： PHI Quantes 双扫描 XPS 探针是以 Quantera II 系统为基础，进行技术升级后得到的新版本。PHI Quantes 的主要特点，是拥有同焦...
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详细摘要： PHI 710 扫描俄歇纳米探针是一台高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域，超薄薄膜和多层结构材料表界面的元素态和化学态信息。作为高空...
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详细摘要： LUXET THERMO 100 是一款全国产化的锁相红外显微成像系统。配备了全自动运动系统、高灵敏度制冷型中波红外相机、广角镜头与大倍率显微镜头、高压源表，可...
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详细摘要： LUXET THERMO 50 是一款基于非制冷红外相机的锁相红外显微成像系统。配备了电动垂直运动系统、高帧频长波红外相机、广角镜头与显微镜头、高压源表，可以适...
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详细摘要： Strain Viewer 内应力检测仪具备透光材料内应力分布测量及缺陷筛查等检测功能。
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详细摘要： PHI X-tool 是 PHI XPS 系列产品中的新成员。（同时结合了PHI Quantera-II 和PHI VersaProbe-III的功能）PHI ...
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详细摘要： Stress Mapper 晶圆翘曲应力测量仪具备三维翘曲（平整度）、薄膜应力、纳米轮廓、宏观缺陷成像等检测功能，适用于半导体晶圆生产、半导体制程工艺开发、玻璃...
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详细摘要： VersaProbe 4 配置了新设计的能量分析器，能实现从微区到大面积的高灵敏度分析。同时还具备高精度的角度接受器、自动荷电中和技术以及多样化的选配方案等特性...
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详细摘要： 红外加热型升温脱附质谱仪TDS1200II是一种通过质谱仪实时观测样品在超高真空中编程升温时脱附的分子的分析仪。
产品型号：所在地：上海更新时间：2024-07-28 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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