详细摘要： Leica EM TIC 3X通过离子枪激发获得的离子束，以垂直于样品侧面纵向轰击样品，可获得高质量无应力切割截面，以用于扫描电子显微镜（SEM），显微结构分析...
产品型号：所在地：深圳市更新时间：2025-04-20 在线留言深圳市新则兴科技有限公司
深圳市新则兴科技有限公司
详细摘要： Leica EM TIC 3X通过离子枪激发获得的离子束，以垂直于样品侧面纵向轰击样品，可获得高质量无应力切割截面，以用于扫描电子显微镜（SEM），显微结构分析...
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详细摘要： 徕卡EM TXP 标靶面制备系统具有定点修块抛光功能，是用锯，磨，铣削，抛光样品后，供扫描电镜，透射电镜，和LM技术检测。带有一体化体视镜，用于精确定位及对较细...
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详细摘要： Leica EM ACE 一键式镀膜仪系列有两个版本可选：Leica EM ACE200适用于常规SEM和TEM分析；Leica EM ACE600 高真空镀膜...
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详细摘要： Leica EM UC7超薄切片机可以在室温进行半薄和超薄切片，为光学显微镜，透射电子显微镜，扫描电子显微镜，扫描电子显微镜和原子力显微镜提供的切片。可加装Le...
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详细摘要： 使用徕卡 EM RES102，使您的样品具备的灵活性，具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和L...
产品型号：所在地：深圳市更新时间：2024-06-03 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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