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3380-P VLSI測試系統主要特色：•85 MHz 測試頻率•512 logic I/O pins （ zui高可至 576 pins）•平行測試可達 51...
3380-D VLSI測試系統主要特色：•100 MHz 測試頻率•256 logic I/O pins （ zui高可至 576 pins）•平行測試可達 2...
3380 VLSI測試系統主要特色：•50/100 MHz 測試頻率•50/100 Mbps data rate•1024 I/O pins （zui高可至12...
3360-P VLSI測試系統主要特色：•25/50 MHz 測試頻率•25/50 Mbps data rate•256 logic I/O pins•8M （...
3360-D VLSI測試系統主要特色：•50 MHz 測試頻率•32/64 個 I/O 通道•8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體•彈性...
3360 VLSI測試系統主要特色：•50 MHz 測試頻率•608 個 I/O 通道•8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體•彈性化硬體結...
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