U1701B手持式电容表主要特性与技术指标•11,000 个计数的分辨率，双显示屏•从 0.1 pF 到 199.9 mF 的广泛测量范围•可视听容差模式，可轻...

33503A BenchLink Waveform Builder 软件主要特性与技术指标•波形程序库可以快速、轻松地接入常见信号（正弦波、方波、三角波、斜波、...

7935晶圓檢測系統主要特色：•zui大可檢測8“ 晶圓 （檢測區域達10“ 範圍 ）•可因應不同產業的晶粒更換或新增檢測項目•上片後晶圓對位機制•自動尋邊功能...

3112 晶片測試分類機主要特色：•高信賴度之PnP自動化測試分類機•x4 多盤置入自動測試分類•* （X/Y/Z/θ） 可調式探針座模組•測式座產品堆疊檢測•...

3813 觸碰面板多點半自動測試機主要特色：•可靠的觸碰面板測試機•適合數位式觸碰面板與類比式觸碰面板•面板尺寸 : 6 inch x 3 sites or 1...

3380-P VLSI測試系統主要特色：•85 MHz 測試頻率•512 logic I/O pins （ zui高可至 576 pins）•平行測試可達 51...

3380-D VLSI測試系統主要特色：•100 MHz 測試頻率•256 logic I/O pins （ zui高可至 576 pins）•平行測試可達 2...

3380 VLSI測試系統主要特色：•50/100 MHz 測試頻率•50/100 Mbps data rate•1024 I/O pins （zui高可至12...

3360-P VLSI測試系統主要特色：•25/50 MHz 測試頻率•25/50 Mbps data rate•256 logic I/O pins•8M （...

3360-D VLSI測試系統主要特色：•50 MHz 測試頻率•32/64 個 I/O 通道•8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體•彈性...

3360 VLSI測試系統主要特色：•50 MHz 測試頻率•608 個 I/O 通道•8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體•彈性化硬體結...

3280 Test-In-Tray測試分類機主要特色：•整合SD卡測試機與自動分類機功能•平行測試120個micro SD卡•Test-In-Tray•UPH ...

3650-EX SoC/Analog 測試系統主要特色：•50/100MHz測試工作頻率•1024個 I/O 通道（I/O Channel）•32M （64M ...

3650-CX SoC測試系統主要特色：•50/100MHz測試工作頻率•256個 I/O 通道（I/O Channel）•16/32 MW vector 記憶...

3650 SoC 測試系統主要特色：•50/100MHz測試工作頻率•512個 I/O 通道（I/O Channel）•16M （32M Max.） Patte...

33010 High Speed PXIe Digital IO Card主要特色：•Standard PXIe-Hybrid [3U] compatible ...

3680 Advanced SoC/Analog Test System主要特色：•24 interchangeable slots for digital, ...

3160 4site終端測試分類機主要特色：•9K pcs 產能 （Model 3160 / 3160A ）•彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 （3160F）•1~...

直流電源供應模組Model36020主要特色：•相容於PXI 3U/混合式PXI匯流排,4通道•+5V/-2V 及 +10V/-2V 兩種 force rang...

通用型機箱Model52100series主要特色：•低售價且高效能的 PXI 標準機箱•背板設計*符合 PXI / CompactPCI 規範•機箱架構強化設...