全反射 X 射线荧光光谱仪表面污染计量测量离散点的元素污染或使用完整的晶圆图

Rigaku 的 ZSX Primus 400 连续波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪专为处理非常大或重的样品而设计。

日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310通过 VPD-TXRF 进行晶圆表面污染测量超痕量元素表面污染的测量

理学台式X射线衍射仪系统将重新定义你所认为的X射线衍射仪方式。

波长色散X射线荧光光谱仪WDA-3650用于薄膜评估的X射线荧光分析仪同时对各种薄膜的薄膜厚度和成分进行无损、非接触式分析

日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪（XRD）粉末衍射、薄膜计量、SAXS、面内散射、操作测量

40 多年来，日本理学Simultix 15波长色散X射线荧光光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量和精度的行业（例如钢铁和水泥）过程控制的元素分析工具