堆栈式压电陶瓷由多个薄片状的压电陶瓷元件通过电极交替堆叠而成。这些压电陶瓷片通常具有较小的厚度，一般在几十微米到几百微米之间，而直径或边长则可以根据具体应用需求...

PZT-DJ30/20型堆栈式压电陶瓷极化装置是一种专门应用于堆栈式压电陶瓷极化的极化装置，堆栈式压电陶瓷由多个薄片状的压电陶瓷元件通过电极交替堆叠而成。这些压...

HEM-500HA高低温电磁型全自动霍尔效应测试系统本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，...

系统组成：HEM-200 高低温霍尔效应测试系统本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、矩阵卡、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件组成。本...

TDFE-3000A型薄膜铁电测试仪是一款高量程款的铁电性能材料测试装置，这款设备可以适用于铁电薄膜、铁电体材料（既可块体材料）的电性能测量，可测量铁电薄膜电滞...

JKZC-BMZD01型薄膜介电常数及损耗测试仪是一款针对薄膜测试的专用设备，测试薄膜介电常数及损耗需要特制的夹具，通过软件可以采集到介损（tgd）及介电常数（...

JKZC-ZCBR9界面材料热阻测试仪一款适用于均质及非均质之导热电绝缘热界面材料的等效热传导系数与热阻抗测试，如：导热膏、导热片、导热胶、界面材料、相变化材料...

TSDC-200型高低温热刺激电流测量仪,热激励去极化电流测量系(thermally stimulated depolar-ization currents,简...

TZ-01型便携式微型探针台是一款可便携的微型探针台，探针台与显示器一体化设计 ，大大减小了设备的占地空间, 整机人体工程学设计，操作简单，使用便捷,带便携式行...

JBRT-300型智能金属箔电阻率测量仪是一款便携全自动测量金属箔、金属薄带的电阻率、电导率等参数高性能检测仪器。应用电流–电压降四端子测量法、先进的电子技术、...

JSRT-1000型金属线材电阻率测试仪是一款针高分辨率、高精度的台式机型，可用于金属线材、棒材等材料电阻率、电导率测量及绞合电线电缆电阻、米电阻的高精度测量。

JSDT-300A型智能金属导线、棒材电阻率仪能便携全自动测量导线、棒材电阻率、电导率等参数高性能检测仪器。

HTIM-300高低温材料电阻率测试仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材...

Radiant Multiferroic II铁电材料测试仪无需改变测试样品的连接，即可实现滞回，脉冲，漏电，IV和IC的测试。配备额外的模块，可实现热释电性能...

​GWJDN-0.1HZ型四通道超低频高温介电测量系统应用于高温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析，通过配置不同的测试设备，完成不同参数的测试。是一款超...

TDJC-5000型电滞回线及高电压介电击穿强度测试系统是一款高量程款的铁电性能材料测试装置，这款设备可以适用于铁电薄膜、铁电体材料（既可块体材料）的电性能测量...

GLRT-600型高低温探针台根据制冷方式分为液氮制冷和GM制冷机两种，温度范围从-260℃度到600℃C可控。产品兼容低至1pA的直流信号，50GHz的高频信...

BLRT-600型背面探针型冷热台适合电极在样品背面的情况，探针可耐受高低温环境重复使用。上部观察窗口离样品距离较远，不需要进行气体吹扫来防止窗口表面结露。提供...

ZLRT-600型正面探针型冷热台适合测试探针需要接触到样品正面的情况，测试探针可前后伸缩和自由转动，因此使用起来灵活方便。根据探针和样品的接触状况，可选择不同...

CLRT-1200正面探针型超高温冷热台采用高温加热元件，可以在1200℃下长期稳定使用；采用高温陶瓷固定探针臂，保证高温下探针稳定可靠；可增加一路温度信号，用...