详细摘要： PHL相位差测量仪PA-Micro是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-10-06 在线留言
北京欧屹科技有限公司
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详细摘要： 相位差测量仪WPA-200-L可测量相位差高达3500nm，适合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以其世界的光子晶体制造技术开发的产品，*的...
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详细摘要： PHL应力双折射测量仪WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其的光子晶体制造技术开发的产品，*的测量技术，高速而又的测量能力使其成为*的...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2022-10-04 在线留言
详细摘要： 无掩膜显微型光刻机装置 UTA系列是将DLP投影仪盒金相显微镜相结合的缩小投影型无掩模曝光系统，其*传统系统（用于掩膜光刻的图案投影曝光系统）可以使用专门为此目...
产品型号：UTA所在地：北京市更新时间：2021-01-21 在线留言
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产品型号：AXISpro所在地：北京市更新时间：2021-01-21 在线留言
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产品型号：所在地：北京市更新时间：2020-12-25 在线留言
详细摘要： 双折射测量仪内应力测量WPA-200可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其世界的光子晶体制造技术开发的产品，...
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详细摘要： 球坑测厚仪BCT100采用优质机械加工部件和简单的操作，使得BCT1000球坑测厚仪，特别适合于要求快速测量硬质涂层（1um）的厚度。球坑法是一种简易实用的镀层...
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详细摘要： 双折射测量仪PA-MicroPA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量...
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详细摘要： 内应力双折射测量仪PA-300-MT是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量...
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详细摘要： 内应力双折射测量仪PA-300-XL是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量...
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详细摘要： 双折射测量仪PA-300-L是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范...
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详细摘要： 内应力双折射测量仪KAMAKIRI -X stage是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KA...
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