切伦科夫显微镜可测试材料中的切伦科夫辐射成像；测试材料中的反切伦科夫辐射成像。
切伦科夫辐射（Cherenkov radiation）是介质中运动的物体速度超过光在该介质中速度时发出的一种以短波长为主的电磁辐射；1934年由前苏联物理学家帕维尔·阿列克谢耶维奇·切伦科夫（Pavel Alekseyevich Cherenkov）发现的。1958年：诺贝尔物理学奖。
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产品简介
切伦科夫辐射（Cherenkov radiation）是介质中运动的物体速度超过光在该介质中速度时发出的一种以短波长为主的电磁辐射；1934年由前苏联物理学家帕维尔·阿列克谢耶维奇·切伦科夫（Pavel Alekseyevich Cherenkov）发现的。1958年：诺贝尔物理学奖。
测试功能
□ 测试材料中的切伦科夫辐射成像；
□ 测试材料中的反切伦科夫辐射成像。
规格参数
□ 支持切伦科夫辐射成像和反切伦科夫辐射成像双模选配；
成像参数：
□ 扫描分辨率：150 nm；
□ 成像范围：300*200 μm；扫描分辨率：150 nm；
□ 支持高速/中速/慢速三种扫描速度模式；
□ 支持XYZ三维自动成像；
□ 支持相机成像观测，支持成像ROI标记。支持成像观测光路和工作光路自动切换；
□ 支持Single point、Multipoint、Line scan、2D mapping四种空间扫描模式；
□ 支持设置是否逐点保存图像；支持测试进程显示；支持X jog、Y jog功能；支持一键homing模式。
