产品简介
全变量空间电荷限域电流(SCLC)迁移率测试系统是东谱科技基于空间电荷限制电流效应,通过多维度参数调控与高精度信号检测,实现半导体材料载流子迁移率精准测量的专用表征设备。其核心优势在于突破传统单变量测试的局限,可同步调控温度、样品厚度、环境氛围等关键变量,深度解析载流子输运机制,广泛适用于有机半导体、钙钛矿、纳米器件等敏感材料与前沿器件的研发表征。
产品特点
□ 支持手套箱原位变温耦合;
□ 支持1分钟快速换样测试;
□ 支持变温、变厚度SCLC分析;
□ 支持低至10fA测试系统定制;
□ 可选配IV仿真分析软件。
功能参数
□ 变温区间(78-350K,视手套箱耦合情况有差异);
□ 电学参数:200V/1A,10fA/100nV。