镀层测厚仪仪器附件探测器
应用CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
镀层测厚仪仪器附件探测器铜厚测量范围：
化学铜：0.25μm–12.7μm（10μin–500μin）
电镀铜：2.5μm–152μm（0.1mil–6mil）
线形铜可测试线宽范围：203μm–6350μm（8mil–250mil）
准确度：±5%参考标准片
精确度：化学铜：标准差0.2%；
电镀铜：标准差0.3%；
分辨率：0.01mils≥1 mil，0.001mils<1mil，0.1μm≥10μm，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm
镀层测厚仪仪器附件探测器
－基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类： 镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）
可检测元素范围：Ti22 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
贵金属检测，如Au karat评价
材料和合金元素分析，
材料鉴别和分类检测
液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较
