详细摘要： 产品概述科研级明暗场正置金相显微镜XJ-58C适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、...
产品型号：XJ-58C所在地：上海更新时间：2023-10-24 在线留言上海蒲柘光电仪器有限公司
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详细摘要： 产品概述科研级明暗场正置金相显微镜XJ-58C适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、...
产品型号：XJ-58C所在地：上海更新时间：2023-10-24 在线留言
详细摘要： 产品概述科研级暗场金相显微镜XJ-52BD适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂...
产品型号：XJ-52BD所在地：上海更新时间：2023-10-23 在线留言
详细摘要： 产品概述三目暗场金相显微镜XJ-55BD适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的...
产品型号：XJ-55BD所在地：上海更新时间：2023-10-23 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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