详细摘要： 产品概述科研级微分干涉金相显微镜XJ-52DIC适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究
产品型号：XJ-52DIC所在地：上海更新时间：2023-10-23 在线留言上海蒲柘光电仪器有限公司
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详细摘要： 产品概述科研级微分干涉金相显微镜XJ-52DIC适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究
产品型号：XJ-52DIC所在地：上海更新时间：2023-10-23 在线留言
详细摘要： 产品概述三目微分干涉金相显微镜XJ-55DIC适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究
产品型号：XJ-55DIC所在地：上海更新时间：2023-10-23 在线留言
详细摘要： 产品概述科研级微分干涉金相显微镜XJ-51DIC适用于金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究
产品型号：XJ-51DIC所在地：上海更新时间：2023-10-23 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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