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INF60-LP激光平面干涉仪

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产品型号INF60-LP

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更新时间：2022-08-09 12:41:56浏览次数：117次

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产品简介

INF60-LP激光平面干涉仪产品型号：INF60-LP平面光学元件表面面型测量

详细介绍

特点：
用途：
技术参数：

结构紧凑，小型化，防尘效果好

平面光学元件表面面型测量

测量方式：菲索干涉原理

通光口径：Φ60mm

测试波长：635nm(半导体激光器)

对准方式：简单两点对准

对准视场：±0.5度

平面标准镜精度：PV：λ/20

关键词：标准

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