深圳市中图仪器股份有限公司

  • 晶圆厚度Warp检测设备 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000系列
    WD4000晶圆厚度Warp检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness、TT...
    型号: WD4000系列 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
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    2025/3/9 17:15:18981
  • WD4000无图晶圆形貌检测设备 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000系列
    WD4000无图晶圆形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石...
    型号: WD4000系列 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
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    2025/3/9 16:42:48636
  • 晶圆几何量测机 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000晶圆几何量测机通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产...
    型号: WD4000 品牌:其他品牌所在地:深圳市 对比
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    2025/3/9 16:08:43621
  • 无图晶圆三维形貌测量仪 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
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    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
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    2025/3/9 14:59:00762
  • 半导体晶圆形貌检测设备 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    中图仪器WD4000半导体晶圆形貌检测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,通过非接触测量,将晶圆的...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
    无图晶圆几何量测系统晶圆几何量测设备晶圆检测设备晶圆形貌测量设备半导体检测设备
    2025/3/9 14:23:08854
  • 晶圆翘曲度测试设备 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000晶圆翘曲度测试设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
    晶圆测试设备晶圆翘曲度测试设备翘曲度检测设备晶圆翘曲度测量设备晶圆几何量测设备
    2025/3/9 13:18:59862
  • 半导体晶圆几何量测设备 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    中图仪器WD4000半导体晶圆几何量测设备可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。通过非接触测量,将晶圆的...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
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    2025/3/9 12:39:57709
  • 晶圆形貌测量仪器 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    中图仪器WD4000晶圆形貌测量仪器通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
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    2025/3/9 12:14:52826
  • 晶圆表面形貌测量系统 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000系列晶圆表面形貌测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
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    2025/3/9 11:28:501125
  • 晶圆三维形貌量测系统 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000晶圆三维形貌量测系统可广泛应用于衬底制造 、 晶圆制造 、及封装工艺检测 、3C 电子玻璃 屏及其精密配件、光学加工 、显示面板 、MEMS 器...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
    晶圆三维形貌测量系统晶圆几何量测系统无图晶圆形貌测量系统半导体晶圆测量系统晶圆形貌测量设备
    2025/3/9 10:50:501212
  • 半导体晶圆厚度测量系统 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000半导体晶圆厚度测量系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件...
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    晶圆厚度测量系统半导体测量系统半导体晶圆测量系统无图晶圆几何量测系统半导体测量设备
    2025/3/9 10:16:521044
  • 晶圆形貌量测设备 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000晶圆形貌量测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
    晶圆形貌测量设备晶圆形貌测量系统晶圆量测设备半导体晶圆量测设备半导体晶圆量测系统
    2025/3/9 9:56:33977
  • 半导体晶圆形貌测量系统 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000半导体晶圆形貌测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、B...
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    半导体晶圆检测设备晶圆形貌测量系统晶圆形貌检测设备晶圆测量系统无图晶圆几何量测系统
    2025/3/9 9:29:44881
  • 无图晶圆几何形貌量测系统 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    中图仪器WD4000无图晶圆几何形貌量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫...
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    无图晶圆几何量测系统晶圆几何形貌量测系统无图晶圆形貌量测系统晶圆形貌量测系统半导体晶圆量测系统
    2025/3/9 8:48:531035
  • 晶圆表面形貌检测设备 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    中图仪器WD4000晶圆表面形貌检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
    晶圆检测设备晶圆形貌检测设备晶圆表面形貌检测设备半导体晶圆检测设备无图晶圆几何量测系统
    2025/3/9 8:00:331113
  • 无图晶圆几何测量系统 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000系列无图晶圆几何测量系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
    晶圆几何测量系统无图晶圆测量系统晶圆表面形貌测量系统晶圆测量设备晶圆几何检测机
    2025/3/8 21:56:08782
  • 晶圆几何形貌测量设备 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000晶圆几何形貌测量设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
    晶圆测量设备晶圆形貌测量设备晶圆检测机晶圆几何形貌测量系统无图晶圆测量设备
    2025/3/8 21:30:24876
  • 晶圆表面三维形貌测量设备 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:WD4000
    WD4000晶圆表面三维形貌测量设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组,使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的...
    型号: WD4000 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
    晶圆形貌测量设备晶圆三维形貌测量设备无图晶圆几何量测系统晶圆表面测量设备半导体晶圆检测
    2025/3/8 20:29:221079
  • WD4000无图晶圆检测机 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:
    WD4000无图晶圆检测机可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类...
    型号: 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
    无图晶圆检测机晶圆检测设备半导体晶圆检测晶圆检测设备厂商晶圆检测机
    2025/3/8 20:23:00903
  • WD4000无图晶圆几何量测系统 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:
    WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。可广泛应用于衬底制造 、 晶圆制造 、及封装工艺...
    型号: 品牌:中图仪器所在地:深圳市 对比
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    2025/3/8 20:12:311031

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