详细摘要： 无线多层土壤水分速测仪QS-SFY-III第三代土壤水分速测仪采用无线多层技术，通过手机对四层水分含量数据进行采集，再通过无线网络发送到云端服务器，主要用于农业...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2016-03-29 在线留言北京金时速仪器设备经营部
北京金时速仪器设备经营部
详细摘要： 无线多层土壤水分速测仪QS-SFY-III第三代土壤水分速测仪采用无线多层技术，通过手机对四层水分含量数据进行采集，再通过无线网络发送到云端服务器，主要用于农业...
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详细摘要： QS-SFY普及版土壤墒情速测仪/土壤水分测定仪仪器发射特定频率的电磁波，电磁波沿不锈钢探针传输到达底部后返回，检测探头输出的电压，由于土壤介电常数的变化通常取...
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详细摘要： KDB-1涂层/薄膜方块电阻测试仪本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。
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详细摘要： KDB-2B金属薄膜方块电阻测试仪配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，...
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详细摘要： KDB-3双组合四探针方阻/电阻率测试仪是根据标准SEMI MF1529设计，双组合测试方法使用四探针的方式不同于其他ASTM测量半导体电阻率或薄层电阻的方法。
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详细摘要： STY-2R全类型整流法导电型号测试仪是严格按照标准SEMI MF42-1105及国家标准GB/T1550中的全类型整流法设计生产。
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详细摘要： LT-1高频光电导少子寿命测试仪 仪器采用GB/T1553-1997中硅单晶少数载流子寿命测定高频光电导衰减法；测试硅单晶电阻率范围：ρ﹥2Ω·㎝，测...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2016-03-29 在线留言
详细摘要： LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪该设备是按照国家标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法"设计制造。
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详细摘要： WJ-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。
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详细摘要： LT-1B高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。
产品型号：所在地：北京市更新时间：2016-03-28 在线留言
详细摘要： WJ-100C型微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计制造。
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详细摘要： WJ-100C型微波光电导载流子复合寿命测试仪-配工控机是参照半导体设备和材料组织SEMI标准MF1535-0707及国家标准GB/T 26068-2010设计...
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详细摘要： KDY-2成套两探针电阻率测试仪（测检磷检硼棒）KDY-2型两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协...
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详细摘要： 成套两探针测试仪（测细硅芯）KDY-2KDY-2型两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会（AST...
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详细摘要： 成套两探针测试仪（测锗锭）KDY-2KDY-2型两探针电阻率测试仪是按照我国国家标准及美国材料与试验协会（ASTM）*的材料验收检测方法“两探针法"设计。
产品型号：所在地：北京市更新时间：2016-03-28 在线留言
详细摘要： KDY-2型两探针电阻率测试仪是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会（ASTM）*的材料验收检测方法“两探针法"设计
产品型号：所在地：北京市更新时间：2016-03-28 在线留言
详细摘要： KDY-4四探针电阻率测试仪是严格按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。
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详细摘要： HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜…...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2016-03-28 在线留言
详细摘要： ST-21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（...
产品型号：所在地：北京市更新时间：2016-03-28 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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