x光设备技术标准2019/2/14

x光设备11月份安装，预计1月份对外服务，X光检测设备工作人员正在对新设备安装调试，1月份可以对外服务。Feinfocus作为高分辨率X光检测设备研发、设计和制造系统供应商，是1982年成立于德国的系...

新款的FIB技术分析2019/2/14

新款的FIB技术分析新款的FIB设备已经到位，功能强大预计1月份面向社会服务数据表Scios2DualBeam通用型高性能双束系统Scios2DualBeam提供佳的样品制备、内部及三维表征性能，可满...

手动探针台常见问题解答2019/2/14

手动探针台常见问题解答2019年悄然到来，新年新气象，开年伊始就收到很多朋友对手动探针台使用问题的咨询，在此收集整理供手动探针台相关信息供大家参考。因经验有限，有说的不合适的地方，望大家指正。一：手动...

高低温箱测试试验没你想的那么简单2019/2/14

低温对产品的影响·橡胶等柔韧性材料的弹性降低，并产生破裂；··金属和塑料脆性增大，导致破裂或产生裂纹；··由于材料的收缩系数不同，在温变率较大时，会引起活动部件卡死或转动不灵；··润滑剂粘性增大或凝固...

电子元器件失效分析2019/2/14

电子元器件失效分析，由于#近在做这方面的事情，所以想跟大家一起来学习下，电子元器件失效状况的分析，其实我们在工作中都会遇到有元器件失效的情况，一般需要借助相关工具或者仪器设备来分析，很多时候，我们遇到...

探针台如何选怎么用2018/12/5

探针台如何选怎么用推动集成电路产业发展，探针台功不可没。高校研究所做科研离不开探针台，尤其是涉及到精密器件失效分析，电性能测试，那么平时采购探针台时，怎样才能选到趁手的设备。首先明确自己测试要求:待测...

Emmi微漏电侦测系统组成2018/10/10

Emmi微漏电侦测系统简介Emmi微漏电侦测系统是失效分析领域在破坏性分析过程中*的一项分析手段，其原理为利用红外线探测器，侦测IC或者元器件的漏电发光位置，为芯片漏电分析做出准确定位。2、Emmi微...

ADVANCED Smart-1 Auto Curve Tracer2018/10/10

Smart-1AutoCurveTracer测试通道:基本64ch,标准256通道，*可扩充至4096ch机台功能:元器件开短路量测以及良品不良品比对元器件IV曲线量测以及良品不良品比对元器件漏电量测...

扫描电镜使用2018/10/10

扫描电镜操作19.平时操作，若要将样品室真空亦保持在10-8pa(10-10torr)，则抽真空的时间将变长而降低仪器的便利性，更增加仪器购置成本，因此一些仪器设计了阶段式真空(stepvacuum)...

扫描电镜使用领域2018/10/10

扫描电镜应用，扫描电镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途*为广泛的一种仪器．它可以进行如下基本分析：1、观察纳米材料：其具有很高的分辨率，可以观察组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100n...

如何保养探针台2018/10/10

探针台维修保养探针台用途：手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容...

探针台的使用方式2018/10/9

探针台的使用方式：1.将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3.使用卡盘X轴/Y轴控制...

集成电路光刻胶去除技术2018/8/24

1集成电路是整个信息产业的基础，是实现中国制造2025的关键，而图形化工艺又是集成电路制造的核心工艺。光刻胶去除是图形化工艺中的关键技术，其中光刻胶去除剂是决定光刻胶去除甚至图形化工艺*终良率及可靠性...

半导体行业概述及产业链分析2018/8/24

半导体设备需求不及预期；国产半导体设备技术突破不及预期；行业政策支持力度不及预期；下游产能投产进度不及预期；相关重点公司未来业绩不及预期。1、半导体设备是什么？1.1、半导体行业概述及产业链分析半导体...

探针台的操作2018/8/24

探针台的操作方法探针台用途：手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电...