冷热冲击箱 电子元器件高低温循环测试设备
产品详情与用途
本设备是一款专为电子元器件、PCB电路板、芯片、通讯模块等产品进行可靠性测试而设计的高精度环境试验设备。它通过模拟产品在高低温环境之间瞬间转换的条件，检验测试对象因热胀冷缩效应引发的物理损伤、性能衰减或失效，如焊点开裂、材料老化、电气性能不稳定等。该设备是提升产品质量、进行失效分析及可靠性验证的关键工具，广泛应用于航空航天、汽车电子、消费电子、半导体等领域。
冷热冲击箱 电子元器件高低温循环测试设备
技术参数
温度范围：高温区：+60℃ ~ +200℃；低温区：-10℃ ~ -65℃（或定制更低温度）
冲击温度：-55℃ ~ +125℃（常用范围，可根据需求定制）
转换时间：＜10秒（试样从高温区暴露到低温区，或反之，恢复时间＜5分钟）
预热/预冷时间：高温区从常温至+150℃约需30分钟，低温区从常温至-55℃约需60分钟。
内箱尺寸：可根据需求定制，如50L、80L、100L等标准规格。
控制精度：温度波动度≤±0.5℃，温度偏差≤±2.0℃。
箱体结构与材质
外箱材质：采用优质A3钢板，表面经防锈处理及静电喷涂，坚固耐用。
内箱材质：使用高级SUS304不锈钢板，耐腐蚀、易清洁，确保长期高温高湿环境下不生锈。
保温层：高强度聚氨酯发泡保温材料，厚度达100mm以上，隔热效果，有效降低设备外壳温度并减少能耗。
样品篮/吊篮：不锈钢结构，承载能力强，由气动或电机驱动，实现高温区、低温区及测试区之间的快速、平稳切换。
设备亮点与优势
高效精准：采用复叠式制冷系统（或泰康/谷轮等品牌压缩机）和高效加热器，确保快速升降温及精确的温度控制，测试结果可靠。
三箱式/两箱式设计：采用独立预热区、预冷区和测试区，避免温度相互干扰，测试效率高，能耗相对较低。
人性化操作：大型彩色触摸屏人机界面，可编程控制器（PLC），操作简单直观，可存储上百组测试程序。
安全可靠：具备超温保护、漏电保护、压缩机过载保护、风机过热保护等多重安全装置，确保设备与操作人员安全。
低噪音运行：优化风机风道设计及压缩机减震措施，设备运行噪音低，改善实验室环境。
注意事项
安装环境：需放置在通风良好、无阳光直射、远离热源的平整地面，确保设备周围有足够散热空间。
样品要求：待测样品应为干燥、洁净、无挥发性易燃易爆物品，总重量和体积不得超过设备规定容量。
定期维护：定期清洁冷凝器滤网，检查电气接线是否松动，以确保设备性能与使用寿命。
安全操作：测试过程中请勿随意打开箱门，以免高温或低温气体喷出造成烫伤或冻伤。设备运行时应有人员定时监控。
