产品详情
本产品是一款专为精密元器件、芯片、集成电路等产品可靠性测试而设计的高性能恒温冷热冲击箱。它采用三箱式（预热区、预冷区、测试区）或两箱式（高温区、低温区）结构，通过快速提篮机构，实现被测样品在高温与低温环境之间的瞬时、无间断转换，精确模拟温度骤变环境，有效考核产品的失效情况和可靠性。
主要用途
本设备广泛应用于电子、通信、汽车、航空航天、科研等领域。主要用于测试精密元器件（如CPU、GPU、内存、传感器）、光电组件、PCB电路板、磁性材料等在高低温快速交替变化下的耐受能力，是发现产品潜在缺陷、评估其寿命与可靠性的关键环境模拟仪器。
技术参数
温度范围：高温区 +60℃ ~ +150℃（可更高）；低温区 -10℃ ~ -55℃（可更低）
冲击范围：-40℃ ~ +125℃（典型）
转换时间：≤10秒（试样从高温到低温或反之的移动时间）
温度恢复时间：≤5分钟内恢复至设定温度（在高温+125℃与低温-40℃间转换时）
预热/预冷槽温度偏差：±2.0℃
控制精度：±0.5℃
内箱材质：SUS304不锈钢，确保耐久与洁净
结构设计
三箱独立结构：采用高温区、低温区、测试区（或提篮）相互独立的设计，有效避免冷热气流相互干扰，确保温度稳定性和测试准确性。
高效提篮传动：采用高刚性机械结构和精密伺服电机驱动，实现平稳、快速、准确的槽间切换，保证转换时间达标且重复性好。
人性化操作界面：大型彩色触摸屏，PLC智能控制器，可编程设定复杂的温度曲线、循环次数及驻留时间，操作简便。
高强度保温：采用高强度聚氨酯发泡保温层，厚度充足，有效减少热量损失，提升能效并保证箱体外壁温度在安全范围内。
设备亮点
极限冲击：能够模拟温度条件，提供远超常规温箱的严苛测试环境。
快速温变：转换与恢复速度，能更真实地模拟实际使用中遭遇的温度剧变，加速暴露产品缺陷。
精准控制：高精度的温度传感器和控温算法，确保测试区内温度均匀稳定，测试数据准确可靠。
优势
高可靠性：关键部件（如压缩机、控制器、电机）均采用国际品牌，确保设备长期稳定运行，故障率低。
测试复现性：精密的机械设计与精准的控制系统，保证了不同批次测试条件的高度一致性。
强大的安全保障：具备超温保护、漏电保护、压缩机过载保护等多重安全装置，并提供完善的售后服务体系，让用户无后顾之忧。
